走査型プローブ顕微鏡 (SPM, Nanoscope III, Veeco)

【設置場所】実験棟22室

【管理責任者】八木一三

【概要】本装置には、導電性の基板を原子レベルで表面観察するための走査型トンネル顕微鏡 (Scanning Tunneling Microcope :STM)としての機能と、非導電性の基板をナノメートルサイズで表面観察するための原子間力顕微鏡 (Atomic Force Microscope: AFM)としての機能がある。溶液中で測定を行うユニットも付属している。